Метод структурированного подсвета для целей трехмерного захвата поверхностей является хорошо освоенной технологией как для промышленных, так и для непромышленных применений. Используя данную бесконтактную технологию оптического сканирования, даже сложные поверхностные структуры захватываются быстро и с высокой точностью. Благодаря своей исключительной механической и термической стабильности может применяться для широкого спектра задач. За счет экстремально прочную конструкцию системы с двумя камерами славятся необыкновенной стабильностью и точностью. Благодаря особой стабильности двойной углепластиковой основы самые высокие требования как при реверс-инжиниринге, так и при контроле выполняются и в условиях измерительной лаборатории, и в производственных условиях.